半導體高低溫沖擊熱流儀

【適用范圍】

豪恩系列半導體高低溫沖擊熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收fa器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

【工作原理】

1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；

2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

【工作模式】

A）2路主空氣管輸出，由分布頭分為8路供氣，帶2套1拖8 系統

B) 2種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode

  測試和循環于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫）

【標準儀據】

GB/T 2423.1-2008     試驗A：低溫試驗方法；

GB/T 2423.2-2008     試驗B：高溫試驗方法；

GB/T2423.22-2012     試驗N： 溫度變化試驗方法

GJB/150.3-2009       高溫試驗

GJB/150.4-2009      低溫試驗          

GJB/150.5-2009      溫度沖擊試驗

【主要技術參數】

1. 設備型號：HE-ATS750
2. 樣品盒尺寸：直徑140mm×高50mm
3. 制冷方式：采用風冷式HFC環保制冷劑復疊系統，溫度可達-70℃
4. 噪音：≤65dB（A聲級）
5. 條件：風冷式環境溫度在+23℃時
6. 溫度控制范圍：-70℃～+250℃
7. 沖擊溫度范圍：-60℃～+200℃
8. 溫度轉換時間：≤10秒
9. 溫度偏差：測試品恒定在-40℃時,溫度偏差為±1℃
10. 沖擊氣流量：1.9~8.5L/s(分為8路，每路0.23~1.06 L/s）連續氣流
11. 溫變速率降：RT+10℃降至-40℃≤60s
12. 試品表面溫度：RT+10℃降至-40℃約1分鐘試品表面溫度達到，氣體溫度與樣品溫度可選擇測控
13. 控制系統：采用進口智能PLC觸摸屏控制，7寸彩色屏
14. 試品：帶2套1拖8 系統，金屬封裝PCB板模塊8片；
15. 前端空氣經干燥過濾器處理,產品測試區及附近無明顯結露現象。設備可以連續運轉不需進行除霜。
16. 外形尺寸：寬790×高1600×深1080（mm）以實物為準
17. 使用電源：AC 三廂 五線 380V 50/60HZ